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各種粒度測(cè)試方法的優(yōu)勢(shì)和不足(一)

更新時(shí)間:2020-08-25 點(diǎn)擊次數(shù):2333

(1) 激光法:優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便,測(cè)試速度快,測(cè)試范圍大,重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,可實(shí)現(xiàn)在線測(cè)量和干法測(cè)量。缺點(diǎn):分辨力較低。

(2) 動(dòng)態(tài)圖像法:優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便、拍攝與分析速度快、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,可測(cè)量大顆粒,可進(jìn)行圓形度、長(zhǎng)徑比等形貌分析。缺點(diǎn):不能分析細(xì)顆粒(如 <2μm),儀器成本較高。

(3) 靜態(tài)圖像法:優(yōu)點(diǎn):成本較低、圖像清晰、可進(jìn)行圓形度、長(zhǎng)徑比等形貌分析。 缺點(diǎn):操作復(fù)雜,分析速度慢,無法分析細(xì)顆粒(如 <2μm)。

(4) 電鏡法:優(yōu)點(diǎn):能分析納米顆粒和超細(xì)顆粒粒度和形貌,圖像清晰,表面紋理可見,分辨率高,是表征納米顆粒粒度的標(biāo)準(zhǔn)方法。缺點(diǎn):代表性差、儀器價(jià)格昂貴。

 

 

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