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2018
9.19

移液器錯誤操作及處理方法－吸頭與移液器不匹配，影響氣密性

錯誤：吸頭與移液器不匹配，影響氣密性正確：選用與移液器匹配的，有質量保證的吸頭分析：吸頭的不匹配，主要表現(xiàn)為對氣密性的影響。會直接影響移液器的性，通常會移液操作會小于設定量。
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2018
9.18

移液器轉移數(shù)ul的貴重試劑時的方法

（1）調(diào)節(jié)旋鈕到所需刻度位置，訣竅：首先可略超過一些，再回旋至刻度。注意禁止超過大刻度，避免人為誤差。（2）插上tip:無菌操作時，要注意動作迅速正確，不能用手碰tip，動作的力度要保持一致，禁止廢動作。普通操作時，可用拇指食指上緊，但手不能碰tip處。（3）指壓到段，tip接觸試劑。白色tip進到液面1mm一下，黃色tip2-3mm，藍色tip2-4mm，避免液壓的影響造成的誤差。（4）緩慢吸試劑，禁止速度過快，液體進入槍頭。（5）移出液面后，在容器內(nèi)壁輕按幾下，使外壁液體...
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2018
9.18

移液器具體使用方法

（1）調(diào)節(jié)旋鈕到所需刻度位置，訣竅：首先可略超過一些，再回旋至刻度。注意禁止超過大刻度，避免人為誤差。（2）插上tip:無菌操作時，要注意動作迅速正確，不能用手碰tip，動作的力度要保持一致，禁止廢動作。普通操作時，可用拇指食指上緊，但手不能碰tip處。（3）指壓到段，tip接觸試劑。白色tip進到液面1mm一下，黃色tip2-3mm，藍色tip2-4mm，避免液壓的影響造成的誤差。（4）緩慢吸試劑，禁止速度過快，液體進入槍頭。（5）移出tip后，先在容器內(nèi)壁輕輕靠住，使ti...
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2018
9.18

納米顆粒追蹤表征的工作原理

納米顆粒追蹤表征的工作原理：分析原理：納米顆粒追蹤分析技術，利用光散射原理，不同粒徑顆粒的散射光成像在CCD上的亮度和光斑大小不一樣，依此來確定粒徑尺寸;合適濃度的樣品均質分散在液體中可以得出粒徑尺寸分布和顆粒濃度信息，準確度非常高。
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2018
9.18

X射線衍射儀技術（XRD）注意事項

X射線衍射儀技術（XRD）注意事項：（1）固體樣品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必須平整，可以用幾塊粘貼一起。（2）對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優(yōu)取向，衍射強度異常，需提供測試方向。（3）對于測量金屬樣品的微觀應力（晶格畸變），測量殘余奧氏體，要求制備成金相樣品，并進行普通拋光或電解拋光，消除表面應變層。（4）粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大于5g。
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2018
9.18

X射線衍射儀技術（XRD）可為客戶解決的問題

X射線衍射儀技術（XRD）可為客戶解決的問題：（1）當材料由多種結晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結晶相的比例。（2）很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，確定材料的結晶程度。（3）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應用提供性能驗證指標。（4）產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應力。（5）納米材料由于顆粒細小,極易形成團...
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2018
9.17

X射線衍射XRD工作原理

X射線衍射XRD工作原理：分析原理：X射線是原子內(nèi)層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數(shù)目的原子或離子/分子所產(chǎn)生的相干散射將會發(fā)生光的干涉作用，從而影響散射的X射線的強度增強或減弱。由于大量原子散射波的疊加，互相干涉而產(chǎn)生大強度的光束稱為X射線的衍射線。
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2018
9.17

電感耦合高頻等離子體ICP工作原理

電感耦合高頻等離子體ICP工作原理分析原理：利用氬等離子體產(chǎn)生的高溫使用試樣*分解形成激發(fā)態(tài)的原子和離子，由于激發(fā)態(tài)的原子和離子不穩(wěn)定，外層電子會從激發(fā)態(tài)向低的能級躍遷，因此發(fā)射出特征的譜線。通過光柵等分光后，利用檢測器檢測特定波長的強度，光的強度與待測元素濃度成正比。
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